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公司名稱(chēng):北京中慧天誠(chéng)科技有限公司
地址:北京市石景山區(qū)城通街26號(hào)
電話(huà):010-89942170,89942167
傳真:010-89942170
郵編:100055
手機(jī):15652257065
聯(lián)系人:劉經(jīng)理
網(wǎng)址:www.fzzww.com
郵箱:675314505@qq.com
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產(chǎn)品型號(hào): |
KDKLT-200 |
產(chǎn)品名稱(chēng): |
數(shù)字式硅晶體載流子復(fù)合壽命測(cè)試儀/少子壽命測(cè)試儀(鑄造多晶)KDKLT-200 |
產(chǎn)品報(bào)價(jià): |
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產(chǎn)品特點(diǎn): |
數(shù)字式硅晶體載流子復(fù)合壽命測(cè)試儀/少子壽命測(cè)試儀(鑄造多晶)KDKLT-200 |
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KDKLT-200數(shù)字式硅晶體載流子復(fù)合壽命測(cè)試儀/少子壽命測(cè)試儀(鑄造多晶)KDKLT-200的詳細(xì)資料: |
數(shù)字式硅晶體載流子復(fù)合壽命測(cè)試儀/少子壽命測(cè)試儀(鑄造多晶) 型號(hào):KDKLT-200 | 貨號(hào):ZH8204 | 產(chǎn)品簡(jiǎn)介: 100C型200型的的zui大區(qū)別只是紅外激光管的功率大了一倍,加了個(gè)紅外地光照破除陷進(jìn)效應(yīng) τ:1~6000μs ρ>0.1Ω·cm太陽(yáng)能硅片壽命,配已知壽命樣片、配數(shù)字示波器, 本設(shè)備是按照標(biāo)準(zhǔn)GB/T1553“硅單晶少數(shù)載流子壽命測(cè)定的高頻光電導(dǎo)衰減法”設(shè)計(jì)制造。高頻光電導(dǎo)衰減法在我國(guó)半導(dǎo)體集成電路、晶體管、整流器件、核探器行業(yè)已運(yùn)用了三十多年,積累了豐富的使用經(jīng)驗(yàn),經(jīng)過(guò)數(shù)次十多個(gè)單位巡回測(cè)試的考驗(yàn),證明是一種成熟的測(cè)試方法,適合于硅塊、硅棒的少子體壽命測(cè)量;也可對(duì)硅片進(jìn)行測(cè)量,給出相對(duì)壽命值。方法本身對(duì)樣品表面的要求為研磨面,因此制樣簡(jiǎn)便。 產(chǎn)品特點(diǎn): 可測(cè)量太陽(yáng)能多晶硅塊、單晶硅棒少數(shù)載流子體壽命。表面拋光,直接對(duì)切割面或研磨面進(jìn)行測(cè)量,儀器可按需方提供的有標(biāo)稱(chēng)值的校準(zhǔn)樣品調(diào)試壽命值。 可測(cè)量太陽(yáng)能單晶及多晶硅片少數(shù)載流子的相對(duì)壽命,表面拋光、鈍化。 液晶屏上直接顯示少子壽命值,同時(shí)在線(xiàn)顯示光電導(dǎo)衰退波形。 配置的紅外光源:0.904~0.905μm波長(zhǎng)紅外脈沖激光器,光穿透硅晶體深度較淺≈30μm,但光強(qiáng)較強(qiáng),有利于測(cè)量低阻太陽(yáng)能硅晶體少數(shù)載流子體壽命,脈沖功率30W。 為消除陷進(jìn)效應(yīng)增加了紅外低光照。 測(cè)量范圍寬廣 測(cè)試儀可直接測(cè)量: a、研磨或切割面:電阻率≥0.5Ω?cm的單晶硅棒、定向結(jié)晶多晶硅塊少子體壽命,切割片的少子相對(duì)壽命。 b、拋光面:電阻率在0.5~0.01Ω?cm范圍內(nèi)的硅單晶、鍺單晶拋光片。 范 圍:0.5μs~6000μs 電 阻 率:ρ﹥0.1Ω·cm(非回爐料) 測(cè)試速度:1分鐘/片 紅外光源波長(zhǎng): 0.904~0.905μm 高頻振蕩源:用石英諧振器,振蕩頻率:30MHZ 前置放大器,放大倍數(shù)約25,頻寬2HZ-2MHZ 可測(cè)單晶尺寸:斷面豎測(cè): 直徑25mm-150mm;厚度2mm-500mm 縱向臥測(cè):直徑5mm-20mm;長(zhǎng)度50mm-200mm 測(cè)量方式:采用數(shù)字示波器直接讀數(shù)方式 測(cè)試分辨率:數(shù)字存儲(chǔ)示波器zui小分辨率0.01μs 設(shè)備重量:20 Kg 儀器電源:電源電壓類(lèi)型:?jiǎn)蜗?10~230V,50Hz,帶電源隔離、濾波、穩(wěn)壓,不能與未做保護(hù)措施的大功率、高頻設(shè)備共用電源。 |  | |
| 產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字: 數(shù)字式硅晶體載流子復(fù)合壽命測(cè)試儀/少子壽命測(cè)試儀(鑄造多晶)KDKLT-200 |
| 如果你對(duì)KDKLT-200數(shù)字式硅晶體載流子復(fù)合壽命測(cè)試儀/少子壽命測(cè)試儀(鑄造多晶)KDKLT-200感興趣,想了解更詳細(xì)的產(chǎn)品信息,填寫(xiě)下表直接與廠(chǎng)家聯(lián)系: |
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